Ich habe alle Anforderungen nochmal durchgelesen. Ich denke, Dein Fehler ist anzunehmen, dass die Rampenmethode schnell genug wäre. Es ist eine gute Methode, ja. Die Umwandlungsrate des DACs ist für diese Aufgabe aber nicht ausreichend (wobei noch unklar ist, welchen Du verwenden willst). Die µC kann zwar nur relativ langsam arbeiten , aber die Hardware Timer sind präzise genug, damit schnelle Messabläufe gesteuert werden können. Also diese Grundvoraussetzung wäre vorhanden.
Das Ziel ist, Reflexionen zu analysieren, um Fehler zu finden. Jeder kleine Fehler im eigenen Aufbau würde zusätzliche, unerwünschte Reflexionen erzeugen, die eine genaue Fehlerdiagnose erschweren würden.
Überlege, ob das angestrebte Rampenverfahren schnell genug ist, um Deine Anforderungen zu erfüllen. Zur genauen Messung müsstest Du dich im Nanosekundenbereich bewegen, jedenfalls für eine einzige Messung. Umso länger das dauert, umso ungenauer wird das Ergebnis sein, bis es nicht mehr sinnvoll brauchbar ist.
Das ist wie ein formel1-Rennwagen den man auf der Rennstrecke fotografieren will. ja man kann ihn bei jeder Runde fotografieren, auch an einer anderen Stelle, aber mit einer Belichtungszeit von 1/60s erkennt man ihn kaum noch oder gar nicht mehr.
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