TDR Messgerät Entwicklung

[wkrug]

Meine Idee wäre die Messung mit dem TDC mit einem Fix eingestellten Komperator zu starten.
Ein zweiter Komperator bekäme dann eine sich ändernde Referenzspannung vom DAC.
Danach wird die gemessene Zeit aus dem TDC ausgelesen und abgespeichert.
Vorerst hätte Ich mal 128 Messzyklen geplant = 128 Impulse mit sich ändernder Referenzspannung.
Theoretisch gäbe der AVR32DB auch 1024 her!
Die Ergebnisse möchte Ich dann aufsteigend sortieren und die dann als Diagramm auf dem Display darstellen.
Als Messfrequenz hätte Ich dabei an 100kHz gedacht - Ich käme damit grob auf etwa 700 komplette Messungen / s - Ich denke das ist mehr als genug.
Der Start des Impulses und des restlichen Timings möchte Ich aus der Hauptschleife des Controllers starten.
Das Ende des Impulses möchte Ich über einen Timer Interrupt auslösen.
Ein Timer ist damit auch nicht überlastet, da er eben nur bis ca. 240 ( bei 100 kHz ) zählen muss bis ein Interrupt ausgelöst wird, der den Messimpuls abschaltet.
Problematisch sehe Ich dabei die Messung von Kurzschlüssen, da hierzu ein weiterer Komparator nötig wäre, der TDC aber nur einen Stopp Eingang hat.

Ich hab im Internet schon so einen ähnlichen Aufbau gesehen, hier wurde ein Digitales Poti als Referenzquelle verwendet.
Sollte also Prinzipiell schon mal hin hauen.

Dein Ansatz hätte den Charme, das die Messwerte nicht sortiert werden müssen, alledings seh Ich hier das Problem mit dem Timing für den A/D Wandler.

[Moppi]

Ich habe alle Anforderungen nochmal durchgelesen. Ich denke, Dein Fehler ist anzunehmen, dass die Rampenmethode schnell genug wäre. Es ist eine gute Methode, ja. Die Umwandlungsrate des DACs ist für diese Aufgabe aber nicht ausreichend (wobei noch unklar ist, welchen Du verwenden willst). Die µC kann zwar nur relativ langsam arbeiten , aber die Hardware Timer sind präzise genug, damit schnelle Messabläufe gesteuert werden können. Also diese Grundvoraussetzung wäre vorhanden.
Das Ziel ist, Reflexionen zu analysieren, um Fehler zu finden. Jeder kleine Fehler im eigenen Aufbau würde zusätzliche, unerwünschte Reflexionen erzeugen, die eine genaue Fehlerdiagnose erschweren würden.
Überlege, ob das angestrebte Rampenverfahren schnell genug ist, um Deine Anforderungen zu erfüllen. Zur genauen Messung müsstest Du dich im Nanosekundenbereich bewegen, jedenfalls für eine einzige Messung. Umso länger das dauert, umso ungenauer wird das Ergebnis sein, bis es nicht mehr sinnvoll brauchbar ist.

Das ist wie ein formel1-Rennwagen den man auf der Rennstrecke fotografieren will. ja man kann ihn bei jeder Runde fotografieren, auch an einer anderen Stelle, aber mit einer Belichtungszeit von 1/60s erkennt man ihn kaum noch oder gar nicht mehr.

[wkrug]

Dein Fehler ist anzunehmen, dass die Rampenmethode schnell genug wäre.

Der D/A Wandler wird vor jedem Impuls ein mal gesetzt.
Im Timer Interrupt der den Impuls abschaltet kann man ja den D/A für die nächste Messung setzen - Ob das so klappt kann man ja mit nem Oszilloskop überprüfen und die Wartezeit bei Bedarf verlängern.
Die Pause zwischen dem letzten Rechteckimpuls und dem Folgenden ist ja frei bestimmbar - Es ist also im Prinzip egal wie schnell der D/A ist, da man hier ja warten kann.
Als D/A kommt der interne 10Bit D/A des AVR32DB32 zum Einsatz - den hab Ich schon mit einer Ausgabefrequenz bis 2 kHz im Einsatz ( anderes Projekt ) - Der kann aber noch wesentlich schneller.
Lt. Datenblatt:
10 Bit Resolution
Up to 140ksps Conversation Time
High Drive Capabilities
Sollte also reichen.
Wird der Speicher des AVR32DB32 zu klein ( Grafikdisplay ), kann man den Pin kompatiblen AVR128DB32 einsetzen.
Die Chips gibt es auch mit 48 und 64 Pins mit Identischem Innenleben ( 2 Ports braucht ja u.U. schon das geplante Display );

Lass mich mal in Ruhe die Komparatoren Methode prüfen.
Die Dinge, die wir hier Besprechen sind ja irgendwo Schritt 10.